1.HOF-21的制备
采用慢扩散法制备HOF-21,在室温下,将20.5 mg腺嘌呤溶解在3 mL乙腈/去离子水(1.5 mL:1.5 mL)混合溶剂中,表示为溶液A。将18.36 mg Cu(NO3)2-3H2O和13.53 mg (NH4)2-SiF6溶解在3 mL乙腈/去离子水(1.5 mL:1.5 mL)混合溶剂中,表示为溶液B。将1毫升乙腈/去离子水(0.5 mL:0.5 mL)混合溶剂添加到溶液B中,以形成中间层来減慢反应速率。然后将溶液A慢慢倒入溶液B中(最好是使用针管等物品将溶液A一滴一滴沿试管壁缓慢放入),密封并在室温下静置4天。最后,将所得分散体离心并用甲醇洗涤,然后在333 K下真空干燥过夜以获得蓝紫色HOF-21晶体。HOF-21的分子式为(Cu2(ade)4(H2O)2) (SiF6)2。具体流程如图1。
图1 HOF-21纳米材料制备流程图
2.HOF-21的表征
(1)利用XRD表征HOF-21的晶体结构,HOF-21制样方法:将HOF-21样品在50 °C下真空干燥24 h,进行XRD表征。
(2)利用ATR-FTIR表征HOF-21的化学结构,HOF-21 制样方法:将HOF-21样品在50 °C下真空干燥24 h,然后与干燥的溴化钾(KBr) 按质量比1:100 研成颗粒均匀的细小粉末,压片后进行ATR-FTIR测试。
(3)利用SEM表征HOF-21纳米颗粒的表面形貌, HOF-21 制样方法:取少量HOF-21颗粒加入乙醇中,超声分散20 min形成均匀的分散液,将分散液滴加到3 mm x 3 mm的硅片上置于50 °C真空干燥箱中干燥2 h,之后把硅片固定在贴有导电胶的样品台。
(4)利用TG和DSC表征测定多孔HOF-21纳米颗粒的热稳定性,样品制备方法与XRD相同。
(5)比表面积及孔隙度分布表征(BET)用于分析多孔材料的比表面积和孔隙结构。通过测试多孔材料在超低温下对吸附质气体的等温吸、脱附曲线,可以计算出多孔材料的比表面积和孔隙分布情况,比表面及微孔分析仪表征HOF-21纳米颗粒的比表面积和孔径分布。HOF-21样品制备方法与XRD相同。
3.MTPIs的制备
(1)4,4二氨基4- (3,4,5三甲氧基)三苯胺(DATT)的制备
将3,4,5-三甲氧基苯胺(5.82g, 0.032mol) 、对氟硝基苯(9.02g,0.64mol)、氟化铯(10.24g) 和120ml的DMSO加入250ml的三颈烧瓶中,通入N2保护,将反应混合物阶段升温至130C并保持8 h。反应完成后,将产物缓慢倒入高速旋转的低温的50%乙醇与水的溶液中,静置1 h后抽滤。将抽滤所得的粗产物在真空烘箱中90°C下真空干燥12 h。最后,将粗产物在1,2- 氯乙烷中重结晶,得到纯的橘黄色粉末DNTT 。然后将DNTT (6.38g, 0.015mol) 、Pb/C (1.91g) 和120ml无水乙醇加入250ml三颈烧瓶中,通入N2保护,将反应混合物升温至85°C。在看见有加热回流的现象后,向反应混合物中缓慢滴加30ml水合肼。反应在85°C下保持8 h,通过TLC监测反应结束后,向反应体系中加入THF并趁热过滤所得混合物以除去固体杂质。通过旋转蒸发浓缩滤液,然后通过去离子水润洗并抽滤,获得粉白色固体粉末。将产物在真空烘箱中70°C下真空干燥12 h,得到DATT粉末。图2
图2 DATT的制备
(2)MTPIs的制备
使用不同摩尔比的DATT和FFDA与6FDA进行共聚,制备了一系列共聚酰亚胺。以DATT/FFDA (1:3) -6FDA 的制备方法为例,将DATT (0.3652g, 1mmol)与FFDA (1.1533g,3mmol) 加入到30ml间甲酚中。等两种单体全部溶解后,加入等摩尔量的6FDA (1.7770g,4mmol)溶解。等待固体完全溶解后,加入异喹啉催化剂(约0.2ml),通入N2保护,将反应逐步升温至200°C反应24 h。最后,等待反应体系降至室温后,将反应液缓慢倒入搅拌中的甲醇溶液进行沉淀,得到纤维状的聚酰亚胺。用同样的方法制备DATT/FFDA-6FDA (nDATT:nFFDA=1:2)、DATT/FFDA-6FDA(nDATT:nFFDA=1:1、DATT/FFDA-6FDA(nDATT: nFFDA=2:1) 、DATT/FFDA-6FDA (nDATT: nFFDA=3:1) 。图3
图3 MTPIs的制备
4.混合基质膜的制备
采用流延法制备混合基质膜,将一定量的MTPIs溶解于DMF溶剂中,固含量控制在6%左右。然后在MTPIs/DMF溶液中分别加入一定质量分数的HOF-21,经搅拌、超声分散后,静置脱气,将混合液涂覆到光滑玻璃板上浇注成膜,后经脱模制得到HOF-21/MTPIs混合基质膜。最终产物在150 ℃下真空干燥12 h。过程如图4。
图4 混合基质膜制备过程
5.混合基质膜的表征
(1)利用XRD表征混合基质膜的晶体结构,样品制备方法如下:将待测样品的涂膜液倒入平整的玻璃表面皿内,室温下自然干燥48 h,然后真空50 ℃干燥24小时至质量不再变化(即均质膜),将待测均质膜裁剪成大小合适的样品进行XRD表征。
(2)利用ATR-FTIR表征混合基质膜的化学结构,膜样品制备方法与XRD相同。
(3)利用SEM表征混合基质膜的表面和断面形貌。样品制备方法如下:1)复合膜表面样品:将复合膜裁剪成大小合适的样品,保持分离层朝上,用镊子小心地将样品粘贴在有导电胶的样品台上;2)复合膜断面样品:先将复合膜底部的无纺布剥离,然后将复合膜置于液氮中约20 s,取出后迅速打断,并用导电胶将脆断后的膜固定在样品台上,注意保证复合膜断面整齐向上并略高于样品台。
(4)利用TG和DSC表征混合基质膜的热稳定性,样品制备方法与XRD相同。
(5)力学性能的测试用于表征膜的机械性能。万能试验机能够将外加荷载下样品的位移、形变等变化转化为电信号,得到相应的力-形变等特征曲线。样品制备方法:将待测膜裁剪成5 cm x 1 cm的矩形长条,常温测试,夹距2 cm,拉伸速率为5mm/min。
(6)通过恒体积变压法分别测量纯He、CO2、O2和N2四气体的纯气体渗透性,探讨其在气体分离领域中的潜在应用。
拟解决的问题:
(1)MTPIs含酰亚胺基团,HOF – 21含有金属框架结构。若分子间相互作用不佳(酰亚胺基团与HOF - 21部分),HOF-21在基质中分散不均,影响膜形成的问题;
(2)150℃真空干燥12 h,MTPIs和HOF-21可能分解。前者化学键断裂,后者结构塌陷,导致混合基质膜性能差或制备失败的问题。
预期成果:
1.成功合成出性能优良的HOF-21;
2.成功制备出结合填料和基体树脂优点的混合基质膜,并对其进行相关测试;
3.探讨该新型材料在气体分离技术领域中的应用,为气体分离提供一种新的研究思路和探索方法。